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TEM小室EMC抗扰度测试
更新时间:2021-08-18   点击次数:2924次

1.   介绍

     有位客户要求我们帮助解决LED灯抗扰度问题。该产品在300 MHz400 MHz频率范围内在实验室中进行BCI(大电流注入法)测试失败,故障模式是LED闪烁。汽车BCI测试需要强大的宽带射频放大器和合适的电流探头才能将RF注入电源线中。由于此测试需要的设备并非每个设计实验室都有,因此Tekbox使用了一种可以简单触发类似效果的测试装置预合规设备。 随后,可以再现故障模式,可以定位DUT的敏感点,并可以解决抗扰度问题

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为了使所需设备的尽量少,频谱分析仪的跟踪发生器用作RF信号发生器。 当频谱分析仪设置为零跨度时,跟踪发生器以恒定频率输出RF。 更改频谱分析仪的中心频率会相应地更改TG输出频率。 频谱分析仪跟踪发生器的输出电平通常可以以-20 dBm0 dBm1dB步长进行设置。 Tekbox调制宽带RF放大器设计为在馈入跟踪发生器信号时可提供其全部输出功率

运行TekboxEMCviewPC可提供舒适的跟踪生成器控制。

TBMDA3调制功率放大器具有高达5W的输出功率和10MHz1.2 GHz的可用频率范围,可驱动TEM单元。 为了施加高场强,TBTC0TEM单元。由于其较低的隔垫高度,当由TBMDA3驱动时,它可以产生高达500V/m的场强。

将伸缩天线连接到频谱分析仪的RF输入,以具有视觉反馈的方式。 由于TBTC0是一个开放的TEM单元,它会辐射一些RF,通常每米距离以30dB的速率减小。 这足以被天线拾取,以显示放大和脉冲调制的RF信号的包络。

该设置基本上可以测试辐射抗扰度。 但是,为了在一定程度上模拟BCI测试,除了DUT之外,将一部分供电电缆放置在隔垫下方,以将RF辐射到供电线路中。

3.   EMC View软件

EMCview当前支持RigolSiglent频谱分析仪的跟踪发生器控制。 软件会定期更新,并会增加对其他频谱分析仪型号的支持。

启动EMCview之后,首先需要与Siglent Spectrum分析仪建立连接。 这可通过DEVICESA USB菜单完成。 单击搜索按钮将列出所有已连接的设备。 选择Siglent SA并按CONNECT VISA建立连接

EMCview提供了辐射和传导EMC测量,RF测量和跟踪发生器控制的模式。 为了进入TG控制模式,请选择菜单MODEGENERATOR。在GENERATOR模式下,用户可以定义固定频率和扫描的列表。

据客户反馈,DUT300 MHz400 MHz范围内存在问题,因此输入了从10 MHz1 GHz的扫描时间,每个频率的停留时间为2秒,频率步长为5 MHz TG幅度设置为-10 dBm,以便从TBMDA3调制放大器获得最大输出功率


4.   扫描频率

按下PLAY按钮后,立即开始扫频。 信号的包络可以在频谱分析仪上进行监视。 由于伸缩天线的频率特性,包络的幅度将随频率而变化。

扫描通过了300 MHzDUT的性能稳定。 但是,接近800 MHz时,LED开始闪烁,然后*熄灭,几乎一直上升到1.2GHz

关于与BCI测试所报告问题的频率差异可以用不同的供电电缆长度以及相应的BCI测试和TEM电池测试期间的电缆谐振来解释。


5.   分析和整改

LED驱动器由三个独立的线性恒流稳压器IC组成,每个IC驱动一串5LED

使用近场探头进行的测试表明,只要靠近三个相同部分中任何一个的调节器IC旁边的几个组件,总会关闭15LED


这是令人惊讶的,因为近场探针仅辐射到PCBA的一小部分。最初,预计仅单个字符串会受到影响。因此,入口点必须是走线,所有三个IC都共享走线。

快速浏览一下原理图,发现所有三个电流调节器都只有使能引脚连接在一起,使能引脚通过相对较长的走线互连到上拉电阻。这也将解释BCI测试期间通过正电源线为RF的入口点。

接下来,将一个1 nF的去耦电容器焊接到每个ICEnable引脚。使用改良的DUT重复进行TEM电池测试,从而解决了抗扰问题。

随后,客户相应地修改了DUT,并成功通过了BCI测试。


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